產(chǎn)品簡介：

  BGA共面度檢測儀是建立在CCD數(shù)位影像的基礎上，通過柱面物鏡將激光擴散為線激光后投射在被測目標物表面形成漫反射.使反射光在CMOS上成像后.通過檢測位置及形狀的變化測量位移及形狀.（簡單來說就是通過激光傳感器掃描出被測物體表面點云形貌.通過軟件抓取點.使用最小二乘法.擬合平面.得出平面度.依托于計算機屏幕測量技術(shù)和空間幾何運算的強大軟件能力而產(chǎn)生的，具有高度與自動化特點。其軟讓坐標尺寸測量變得便捷而愜意，擁有基于機器視覺與過程控制的自動學習功能，依托數(shù)字化儀器高速而精準的走位，可將測量過程的路徑，對焦、選點、功能切換、人工修正、燈光匹配等操作過程自學并記憶?？梢暂p松學會操作員的所有實操過程，結(jié)合其自動對焦和區(qū)域搜尋、目標鎖定、理匹選點的模糊運算實現(xiàn)人工智能，可自動修正由工件差異和走位差別導致的偏移實現(xiàn)精確選點，具有高精度重復性。從而使操作人員從疲勞的精確目視對位，頻繁選點、重復走位、功能切換等單調(diào)操作和日益繁重的待測任務中解脫出來，成百倍地提高工件批測效率,滿足工業(yè)抽檢與大批量檢測需要。

產(chǎn)品原理：

通過線激光對芯片有焊錫球及的表面，或者IC上的引腳面進行掃描，采集出三維點集數(shù)據(jù)，并由軟件處理生成工件的3D圖形，通過軟件算法提取3D圖中每個焊錫球的高點或者低點，再用所有最高點或者低點生成一個平面，并計算出平面度值即為焊錫球或者引腳共面性。

產(chǎn)品應用：

BGA共面度檢測儀廣泛應用于晶元、芯片（DIP、SOP、QFP、QFN、BGA、LGA、PGA）等共面性檢測，機械制造、電子、汽車、五金、塑料、模具等行業(yè)，可以對工件尺寸、形狀和位置公差進行精密檢測，從而完成零件檢測、外形測量、過程控制等任務。

產(chǎn)品規(guī)格：

測試效果：